(Adnkronos/Labitalia) - "Le tecniche di misura presentate nell’articolo - ha dichiarato Alessandro Chini, supervisore di Fabio Soci - consentono un’approfondita analisi dei meccanismi d’intrappolamento di carica che compromettono la stabilità e l’affidabilità dei transistor, ma soprattutto permettono di effettuare significativi confronti tra famiglie di dispositivi realizzate con processi differenti, aspetto più che mai importante nello sviluppo di una nuova tecnologia". Il lavoro, per cui Soci è stato premiato, ha visto impegnato uno staff ampio, principalmente attivo presso i laboratori del Dipartimento di Ingegneria Enzo Ferrari a Modena, guidato da Paolo Pavan, docente di Elettronica, con la supervisione di Alessandro Chini e la collaborazione di Paolo M. Tedaldi, studente magistrale di Ingegneria Elettronica. La collaborazione include anche STMicroelectronics che ha fornito i dispositivi e i docenti Gaudenzio Meneghesso ed Enrico Zanoni dell’Università di Padova. "Questo riconoscimento - ha commentato Pavan, docente di Elettronica al Dief - si aggiunge ai positivi risultati ottenuti dai ricercatori di Elettronica nella Valutazione sulla qualità della ricerca (Vqr) che li vedono al primo posto in Italia. La elevata qualità dei risultati si ottiene anche attraverso la preparazione, l’impegno e la dedizione dei giovani dottorandi di Elettronica".
